Структуроскоп ВЭ-26НП предназначен для неразрушающего контроля качества изделий из немагнитных сплавов на основе алюминия или меди при помощи измерения их удельной электрической проводимости.
Применение
Сортировка изделий по удельной электрической проводимости или ее приращению относительно некоторого базового значения и контроль различных механических характеристик электропроводящих неферромагнитных материалов при наличии экспериментально установленных корреляционных связей между удельной электропроводимостью и этими характеристиками. Встроенный термометр позволяет учесть влияние температуры окружающей среды и повысить точность измерения. Память сохраняет 4096 измерений для последующей передачи на ПК.
4096
Измерений в памяти
Технические характеристики
| Диапазон измерений абсолютного значения удельной электрической проводимости, МСм/м | 5...60 |
|---|---|
| Диапазон измерений приращений удельной электрической проводимости, МСм/м | 9,99...+9,99 |
| Предел допускаемой основной относительной погрешности измерений, %, не более | — в диапазоне измерений от 5 до 40 МСм/м 2 — в диапазоне измерений от 40 до 60 МСм/м 3 |
| Допустимый зазор между преобразователем и поверхностью контролируемого изделия, мм, не более | 0,25 |
| Индикация результатов измерений | цифровая |
| Электропитание | от батареи типа РРЗ, В 9 |
| Потребляемая мощность, мВт, не более | 40 |
| Диапазон рабочих температур, ºС | 5...40 |
| Габариты, мм | 157 х 84 х 30 |
| Масса, г | 270 ± 20 |