Толщиномеры и анализаторы покрытий FISCHERSCOPE X-RAY XUV

Толщиномеры и анализаторы покрытий FISCHERSCOPE X-RAY серии XUV оснащены вакуумной измерительной камерой. Предназначены для контроля лёгких материалов из натрия и подобных с применением рентгенофлюоресцентного метода.

Выполнены в виде настольных приборов с цилиндрической измерительной камерой. Измерения могут выполняться в вакууме, в окружающем воздухе или при продувке гелием (опционально). Это даёт возможность анализировать органические или жидкие образцы. Приборы серии XUV имеют электрически сменные апертуры и первичные фильтры. Соответствуют DIN ISO 3497 и ASTM B 568.

Приборы могут применяться для измерения на тонких покрытиях, таких как CIGS, CIS, CdTe. Используются для неразрушающего анализа золота, ювелирных изделий и драгоценных камней, а также в электронике и полупроводниковой промышленности. Подходят для определения вредных веществ в материалах согласно требованиям RoHS, WEEE.

0,15  мм
Диаметр наименьшей области измерения

Особенности

• высокая чувствительность, высокая степень повторяемости и универсальность измерительных средств;
• кремниевый дрейфовый детектор служит для высокой точности и чувствительности обнаружения;
• приборы имеют программируемые оси X, Y и Z;
• подходят для автоматизированных измерений;

• представление данных на ПК, анализ и оценка измерений осуществляются с помощью программного обеспечения WinFTM;
• метод фундаментальных параметров Fischer исключает необходимость калибровки;
• возможность менять диафрагмы и фильтры в зависимости от задач контроля;